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冷冻聚焦离子束电子显微镜 Helios 5 Hydra CX型 号:Helios 5 Hydra CX 厂 家:美国Thermo Scientific 仪器位置:分析测试中心108 管 理 员:白星星,施敏,兰伟 邮 箱:bx@xju.edu.cn;shimin@xju.edu.cn;lw@xju.edu.cn 主要用于在低温及近原位条件下开展材料与生物样品的三维结构表征与微纳尺度精细加工,包括纳米尺度三维重构、界面结构解析、孔隙及连通性分析、微区成分分布表征以及失效机理研究;可实现对空气和湿度敏感样品(如锂电材料、催化剂及软物质)的无污染转移与真实结构保持。在新能源、电化学储能、催化化学、半导体器件、先进功能材料及生命科学等领域具有广泛应用可为材料结构–性能关系、生物功能机制及关键技术开发提供重要实验依据。 -
高倍透射电子显微镜 JEM-2100型 号:JEM-2100 厂 家:日本电子 仪器位置:分析测试中心108 管 理 员:白星星,施敏,兰伟 邮 箱:bx@xju.edu.cn;shimin@xju.edu.cn;lw@xju.edu.cn 广泛用于材料领域,可观测晶体结构、位错晶界、析出相与纳米形貌;适配石墨烯、半导体、锂电、催化等新能源与纳米材料研究。也可开展生物超微结构、病毒观测、环境颗粒物及地质矿物分析,实现微观形貌、晶体结构与微区成分一体化表征,是科研与工业研发的主流通用型高精表征设备。 -
场发射透射电子显微镜 JEM-F200型 号:JEM-F200 厂 家:日本电子 仪器位置:博达校区分析测试中心106室 管 理 员:白星星,施敏,兰伟 邮 箱::bx@xju.edu.cn;shimin@xju.edu.cn;lw@xju.edu.cn 场发射透射电子显微镜不仅可实现超高分辨率图像的观察。同时,还可以得到纳米尺度的结构、成分等信息。主要应用于材料科学、生命科学、医疗、制药、半导体、纳米技术等领域的显微形貌、晶体结构和相组织的观察与分析以及各种材料微区化学成分的定性和半定量检测。 -
场发射透射电子显微镜 SU8010型 号:SU8010 厂 家:日立 仪器位置:博达校区分析测试中心104室 管 理 员:施敏,白星星 邮 箱:shimin@xju.edu.cn;bx@xju.edu.cn 场发射扫描电镜(FE-SEM)发射扫描电镜及附件主要用于各种材料的形貌和元素分析,扫描电镜分析是一种针对固体样品的表面形貌进行的无损分析,电子束照射在样品表面激发出二次电子、背散射电子等,对应形成二次电子图像(形貌相)、背散射图像(成分相)。X射线能谱仪可针对样品进行成分的定性、定量分析,测试范围Be4-U92元素。广泛应用于地质学、材料科学、生物学、医学等各领域不含挥发性组分的干燥固体样品的测试。 -
极高分辨场发射扫描电镜 SU8600型 号:SU8600 厂 家:日立 仪器位置:博达校区分析测试中心104室 管 理 员:施敏,白星星 邮 箱:shimin@xju.edu.cn,bxxju@xju.edu.cn 主要用于材料表面及微纳结构的高分辨形貌表征,可广泛应用于新能源材料、催化材料、半导体器件、金属合金、陶瓷材料、高分子材料、生物医药样品及矿物材料等领域。结合EDS、EBSD、STEM等附件,还可进一步开展微区元素组成、元素分布、晶粒取向、相结构及局部透射形貌分析,为材料结构设计、性能优化、失效分析和工艺改进提供重要支撑。 -
热场发射环境扫描电镜/场发射电子探针 JXA-iHP200F型 号:热场发射环境扫描电镜/场发射电子探针 厂 家:日本电子JEOL 仪器位置:博达校区分析测试中心104室 管 理 员:施敏,兰伟 邮 箱:shimin@xju.edu.cn,lw@xju.edu.cn 主要用于固态样品的表面形貌观察、矿物结构识别和微区元素定性定量分析。该仪器可通过二次电子图像(SEI)和背散射电子图像(BSE)观察样品形貌、矿物相关系、成分环带及包裹体特征;利用WDS/EDS开展造岩矿物、金属硫化物、尖晶石、稀土矿物等主量和微量元素分析,并可检测F、Cl等低含量挥发组分,还可获取元素二维分布信息,为矿物成因、岩石演化、矿床研究和材料成分分析提供重要支撑。 -
高分辨力电热多场耦合扫描电镜(建设中)型 号:建设中..... 厂 家:建设中..... 仪器位置:博达校区分析测试中心104室 管 理 员:施敏,张薛安 邮 箱:shimin@xju.edu.cn,985394902@qq.com 主要应用于新能源材料、金属材料、半导体材料、陶瓷材料、复合材料及功能薄膜等领域的微观结构表征与原位性能研究。可用于观察材料表面形貌、断口特征、晶粒结构、相分布和元素组成,分析材料在力、热等外场作用下的微结构演变、变形损伤和失效行为;同时可结合固态电池原位电化学系统,研究充放电过程中电极/电解质界面演化、锂沉积行为、枝晶生长及界面失效机制,为材料结构优化、性能提升和失效分析提供重要支撑。 -
比表面积分析仪 V-sorb 2800TP型 号:V-sorb 2800TP 厂 家:国仪量子 仪器位置:博达校区分析测试中心111室 管 理 员:白星星,施敏,兰伟 邮 箱:bx@xju.edu.cn;shimin@xju.edu.cn;450710524@qq.com 主要用于粉体材料、多孔材料和纳米材料的比表面积、孔容、孔径分布及吸附性能分析,广泛应用于催化剂、吸附剂、活性炭、分子筛、金属有机框架材料(MOFs)、电池电极材料、煤基碳材料、陶瓷材料、矿物材料及药物粉体等领域。 -
冷冻真空转移样品杆 Model 2550型 号:Model 2550 厂 家:德国Fischione 仪器位置:博达校区分析测试中心106室 管 理 员:白星星,施敏,兰伟 邮 箱:bx@xju.edu.cn;shimin@xju.edu.cn;450710524@qq.com 主要用于蛋白质、病毒等生物大分子单颗粒分析,脂质体、囊泡、外泌体等软物质形态观察,高分子及纳米复合材料界面和内部结构表征,也可用于固态电池电极/电解质界面、催化剂及多孔材料的低温原位分析。该设备能够实现样品从冷冻制样、真空转移到低温TEM观察及三维重构的连续衔接,为结构生物学、材料科学、能源科学和纳米技术等领域提供关键支撑。 -
电镜样品前处理系统—徕卡冷冻超薄切片机、临界点干燥仪型 号:UCEnuity+EMRAPID+EMCPD300+EMKMR3 厂 家:德国Leica 仪器位置:博达校区分析测试中心103室 管 理 员:施敏,白星星 邮 箱:shimin@xju.edu.cn,bx@xju.edu.cn 徕卡冷冻超薄切片及前处理系统主要用于生物组织、细胞、高分子材料、凝胶、膜材料及含水软物质样品的低温超薄切片和电镜前处理,可有效保持样品原始水合结构和微观形貌,为TEM、cryo-EM及三维重构提供高质量纳米级样品。临界点干燥仪主要用于生物样品、微生物、植物组织、多孔材料、凝胶及精细微结构样品的扫描电镜制样,通过CO2临界状态干燥,避免样品因表面张力产生收缩、塌陷和变形,最大程度保持样品原始三维形貌。
