型 号：Escalab 250Xi 厂 家：美国Thermo Scientific 仪器位置：博达校区分析测试中心107室 管 理 员：郭勇，金永明 电 话：13629930280, 18140919971 主要用于材料表面元素种类及含量分析、化学价态判定、表面修饰层与氧化层表征、薄膜及涂层研究、界面反应机理分析以及元素随深度变化规律研究。在新能源电池、催化、半导体、先进薄膜、金属腐蚀防护及功能材料等领域具有广泛应用，可为表界面机制解析、材料性能优化及关键技术开发提供重要实验依据。

型 号：ARL perform’X 厂 家：美国Thermo Scientific 仪器位置：博达校区分析测试中心211室 管 理 员：郭勇，金永明 电 话：13629930280, 18140919971 主要用于固体样品（压片和熔片）、粉末样品、液体样品的无损分析，可以为岩石、矿石、矿物、土壤、粉煤灰、催化剂、金属、陶瓷、玻璃、水泥等材料提供定性定量的分析，也可以为没有标准物质的样品、新开发样品或者其他手段难以分析的样品提供快速的无标分析。在地质矿产、新能源电池、催化、石油化工、半导体、先进薄膜、金属合金、煤化工、环境保护、及功能材料等领域具有广泛应用。

型 号：PHI nanoTOF 3+（TOF-SIMS）、PHI GENESIS 500（XPS）、CK450F(三靶磁控溅射)、LabNano Particle150&9100（ALD） 厂 家：ULVAC-PHI, Inc.（日本）、鹏程真空（沈阳）、英作纳米科技（北京） 仪器位置：博达校区分析测试中心105室 管 理 员：郭勇，金永明 电 话：13629930280，18140919971 主要用于材料表面成分、化学态、分子结构、元素分布及痕量掺杂的表征，支持原位制备、改性与深度剖析。适用于新能源材料、催化、半导体、薄膜器件、腐蚀与防护、微纳结构及失效分析等领域。可开展TOF-SIMS、XPS、UPS、LEIPS、ALD、磁控溅射等联合实验，为表界面机制研究、材料性能优化及高端器件开发提供关键数据支持。

型 号：D8 ADVANCED 厂 家：德国 Bruker 仪器位置：博达校区分析测试中心109室 管 理 员：金永明，郭勇 电 话：18140919971,13629930280 主要用于材料常规物相分析、晶体结构表征及小角衍射测试，可广泛应用于无机材料、矿物、金属合金、陶瓷、催化剂、能源材料、高分子和薄膜材料等领域。该仪器可用于鉴定样品晶相组成、分析晶体结构、晶粒尺寸、结晶度、晶格参数和相变行为，也可通过小角X射线散射/衍射研究纳米颗粒、孔结构、层状结构及介孔材料的微观结构特征，为材料研发、质量控制、矿物鉴定和结构性能关系研究提供重要支撑。

型 号：Smartlab 9kw 厂 家：日本 理学 仪器位置：博达校区分析测试中心109室 管 理 员：金永明，郭勇 电 话：18140919971,13629930280 主要用于材料物相组成、晶体结构及微观结构的综合分析，可开展常规物相检测、小角衍射、掠入射衍射、微区衍射、残余应力分析、织构分析及高温/电化学原位检测等。该仪器适用于金属材料、陶瓷材料、矿物材料、催化材料、薄膜材料、半导体材料、能源材料和高分子材料等领域，可用于分析晶相组成、晶粒尺寸、结晶度、晶格参数、取向结构、薄膜相结构、局部微区结构及材料在温度、电化学反应等条件下的动态结构演变，为材料结构解析、性能优化、相变机制研究和失效分析提供重要技术支撑。

型 号：Smartlab 9kw 厂 家：日本 理学 仪器位置：博达校区分析测试中心109室 管 理 员：金永明，郭勇 电 话：18140919971,13629930280 主要用于材料晶体结构和物相组成的综合表征，可开展常规物相检测、小角衍射、微量样品衍射、掠入射衍射、微区衍射及透射模式测试，适用于无机材料、矿物材料、金属合金、陶瓷材料、薄膜材料、催化材料、能源材料、高分子材料及纳米材料等领域，可用于分析样品晶相组成、晶体结构、晶粒尺寸、结晶度、晶格参数、薄膜表层结构、局部微区结构及纳米尺度孔道或层状结构特征。

型 号：easy XAFS300+ 厂 家：美国 easy XAFS 仪器位置：博达校区分析测试中心109室 管 理 员：兰伟，金永明 电 话：18160585853, 18140919971 主要用于材料体相中目标金属元素的价态、氧化态及局域配位环境分析，可获得配位原子种类、配位数、键长和结构无序度等信息，从原子尺度揭示材料微观结构特征。该技术广泛应用于催化剂、电池材料、陶瓷材料、环境材料、矿物材料、核材料及煤基功能材料等领域，尤其适用于研究活性金属中心结构、价态变化、反应过程中的配位演化及材料构效关系。

型 号：G200X 厂 家：美国KLA 仪器位置：博达校区分析测试中心107室 管 理 员：史岷山，唐军 电 话：18999834636, 18909924168 主要用于薄膜、涂层、微结构、多相复合材料及能源材料等微纳尺度力学性能评价。该仪器可测试材料的硬度、弹性模量、接触刚度、蠕变、疲劳和断裂行为，尤其适用于传统宏观力学方法难以表征的微小区域或受限体积样品。其广泛应用于半导体薄膜、金属互连层、硬质涂层、MEMS器件、锂离子电池电极、固态电解质、二维材料、生物硬组织及复合材料界面等研究，可为材料结构设计、界面结合强度评价、失效分析和性能优化提供重要力学参数支撑。

型 号：建设中xxxx 厂 家：建设中xxxx 仪器位置：博达校区分析测试中心102室 管 理 员：郭勇，金永明 电 话：13629930280, 18140919971 主要用于材料科学、地球科学和生命科学等领域。在材料科学中，可无损表征材料内部孔隙、裂纹、夹杂物、析出相及不同密度组分的三维形貌和空间分布，并获得体积分数、尺寸、连通性等定量信息；在地球科学中，可用于岩石、矿物和化石内部孔隙、裂隙、包裹体及组分分布分析，支撑储层评价和地质结构研究；在生命科学中，可无损观察动植物组织三维结构，如木材细胞、维管束、细胞壁及动物肺部气管等，为组织结构解析和功能评价提供技术支撑。

型 号：建设中xxxx 厂 家：建设中xxxx 仪器位置：博达校区分析测试中心107室 管 理 员：郭勇，金永明 电 话：13629930280, 18140919971 主要用于材料科学、冶金学、腐蚀科学、微电子材料与器件、新能源材料及催化材料等领域，可用于纳米线、超薄膜、多层膜、界面杂质、晶界偏析、表面污染、腐蚀氧化及器件失效等研究。配套EBSD系统可分析晶粒取向、物相分布、织构、晶界特征及局部应变，适用于金属、陶瓷、半导体、矿物等材料在凝固、变形、相变、腐蚀、断裂和失效分析等方面的研究。