仪器名称
高分辨式透射电子显微镜(HRTEM)
仪器型号
JEM-2100
仪器厂家
日本电子
安装日期
2007-10
联系人、电话
施敏:19990348613
存放地点
博达校区理化中心108室
主要性能参数
主要技术指标:
电子枪:LaB6 (六硼化镧);
放大倍数(高倍模式):15000~1000000倍;
放大倍数(低倍模式):50~6000倍;
加速电压:200 kV;点分辨率:0.23 nm,线分辨率:0.14 nm。
能谱仪:具有点、面分析功能,其分辨率优于128 eV,检测元素范围:Be(4)-Pu(94)。
功能介绍
对材料进行高分辨电子显微学研究,包括选取衍射、晶格条纹等;
粉末、微粒纳米样品形态和粒度的测定;
金属、陶瓷、矿物、水泥、半导体、纸张、塑料、食品、农作物、细胞等材料的显微形貌分析;材料中元素定性分析、定量分析。
低倍透射电子显微镜(TEM)
H-600
日本日立
1987-12
骆建敏:13369600355
王省超:18399698909
施 敏:13899520791
4号楼1楼121室
放大倍率:700~300000倍;加速电压:25、50、75、100 kV;
电子枪:W灯丝;点分辨率:< 0.38 nm;
侧插1K*1K CCD相机
动、植物样品超微结构分析、病理切片、细菌、病毒;
无机/有机纳米材料微观结构与形貌分析;
高分子材料微观结构与形貌分析;
金属材料颗粒微观结构与形貌分析。
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