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实验仪器

X射线光电子能谱仪(X - Ray Photoelectron Spectroscopy ——XPS)

2016年11月25日 17:01  点击:[]


仪器名称:X射线光电子能谱仪(X  - Ray Photoelectron Spectroscopy ——XPS

仪器型号:ESCALAB  250Xi

生产厂家:美国Thermo  FisherScientific

购置时间:20155

放置地点:生地楼理化测试中心120

仪器单价:446万元

操作人员:郭

联系电话:13629930280                   0991-8583278-8120

技术指标:

 

1.  XPS指标:

1.1  配备单色化铝靶和非单色化镁铝靶双阳极,铝靶能量范围:0~1486.6  eV,镁靶能量范围:0~1253.6  eV。单色化铝靶对Ag3d5/2,在能量分辨率≤1  eV时,计数率不低于2,500,000  cps;双阳极靶在分辨率≤1  eV时,计数率不低于7,000,000  cps。通过能从1~400  eV连续可调,调节步长≤1  eV

1.2  XPS成像,快速平行成像,对Ag3d5/2,线扫描的最佳空间分辨率优于3  μm

1.3  特有分析模式:可对有机物进行O-C=OC-C峰分析测试。

2.  紫外光电子能谱(UPS)指标:

2.1  Ag费米边,能量分辨率≤  100 meV

2.2  Ag样品上,He  I计数率≥  1,000,000 cps

3.  反射电子能量损失谱(REELS)指标:

电子枪发射的电子最高能量≥1000  eV;在能量分辨率≤  0.5 eV时,计数率≥  1,000,000 cps

 

设备功能及特点:

4.  XPS功能及特点:测试粉末、薄膜、高分子等材料的表面几个原子层(1~10纳米厚的表面)的化学组成、价态,深度剖析及成像、功函数特性的分析与表征。

5.  UPS功能及特点:测试粉末、薄膜、高分子等材料的表面价带结构谱。

6.  送样须知:

6.1不能被测试的样品种类:放射性的样品、具有磁性的样品(不带磁性的磁性粉末材料不可以被分析测试,不带磁性的磁性片状材料可以被分析测试或去磁后的磁性片状样品可以测试,但必须说明该样品容易被磁化)。真空中会释放大量气体、尤其释放的气体对不锈钢具有腐蚀性的样品,比如可以释放出HCl  H2O等有化学毒性和生物毒性的样品。在X光照射下会分解的样品也不能进行测试。

6.2  样品物性/外形/尺寸

导体、半导体和绝缘体均可以。对绝缘体只适合粉末、薄膜、薄片,不适合块体。

半导体和绝缘体片状样品:厚度1毫米以内。

6.2.1导体片状样品:厚度小于3  mm;长×宽的尺度范围:~6  mm× 6mm 10  mm ×10 mm以内;  

6.2.2粉末样品:重量~30  mg,体积大于0.2  ml;如果需要压片时(有利于做定量分析),送样量(体积)应适当增加到0.75-1  ml。样品要充分干燥,粉末尽量研细,样品无磁性、无腐蚀性;

6.2.3对于块状(不规则形状时)样品:需要送样人将样品加工成片状,上下两面最好互为平行面;

6.2.4特殊样品形状:纤维、大颗粒、小圆棒(尺寸大小在微米到几个毫米之间)。

6.  3送样时注意事项:

6.3.1 样品中不得含有乙酸乙酯、氯仿、二氯甲烷、苯、环己烷、DMSO等有机试剂,待测试的样品表面不能被沾污(如手摸拿,碰触污染物等);

6.3.2  易被氧化或易吸水样品,在送样过程中应注意隔离空气;

6.3.3  最好用带盖的玻璃小试管、小容量瓶等容器装样;最好不要直接使用塑料容器、塑料袋、含硅的胶带或胶面和纸袋,以免硅树脂或纤维污染样品表面;

6.3.4  如为挥发性高分子样品或具挥发性覆膜,务必先自行在真空高温炉中抽除挥发性分子;如果样品置入真空腔后,隔夜无法抽至5×10-7  mbar以下,测试将被取消;

6.3.5  易被氧化和易发生吸附的样品,在送样过程中应注意隔离空气(如放保干器等),或事先咨询操作人员。分析进行时,常视初始实验情况决定分析条件,送样者若能到场,可能有助于分析的进行。

6.3.6  对薄膜、片状、块体样品标记出测试面;样品袋上请标上送样人姓名;

6.3.7  写明分析测试的要求,如定性(成份,价态等),定量(样品中元素成分比),送样联系人信息等。如果样品有易磁化,易变性(如被氧化,吸附等)等情况应说明清楚。

主要附件:

7.  旋转样品台:可实现对薄膜材料的多角度刻蚀。

8.  应用领域:材料、航天、航空、电子、生物等领域。

8.1各种无机和有机固体材料的表面元素或其价态的定性和定量分析

8.2各种无机和有机固体材料的表面元素的化学成像

8.3各种无机固体材料的表面的Ar离子剥离法深度剖析

8.4腐蚀、摩擦、浸润、粘接、催化、包覆、氧化等表面和界面过程的研究

9.收费标准:

9.1  常规测试:200/个,除CO外的3种元素,只刻蚀一层(60s内免费,超过60s100/60s);

9.2  深度分析:  300/小时(超时:100/10min计价);

9.3  XPS线扫描:(1  0.5×分析点数)×300

9.4  选区成像(XPSi):  300/小时(超时:100/10min计价);

9.5  角分辨XPS  300/个(三个角度以内,另外每增加一个角度加收150元);

9.6  UPS测试:300/个(价带谱和/或功函数);

9.7反射式电子能量损失谱(REELS):300/个(氢);

9.8 离子散射谱(ISS):300/个(同位素)。

10.  本测试只提供原始数据,如需分析另外收费50/个)。

注:以上为校内收费标准,校外费用加倍。










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